2005 © www.nanospek.com.tr
21 Kasım 2008 Cuma

   BRUKER    BRUKER OPTICS    TESCAN    POLYMER LABORATORIES    MICROTRAC

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2005 © www.nanospek.com.tr






 

       X-Işını Floresans (XRF)-Elemental Analiz, Üretim ve Kalite Kontrol

 

       X ışını floresans analizi (XRF)-her çeşit numunede, sıvı, katı ve toz farkı olmadan elemental analiz yapmak için kullanılan en iyi analitik tekniklerden birisidir. XRF basit ve hızlı numune hazırlığıyla Beriyumdan (Be) Uranyuma (U) kadar olan element konsantrasyonlarını %100 ppm seviyesinin altında yüksek kesinlik ve doğrulukla oranıyla vermektedir.

 
    Toplam yansıma X-ışını floresans spektroskopi (TXRF)-Bruker AXS den Spektrometre Çözümleri

 

      Özel bir EDXRF metodu olarak, TXRF spektroskopisi özel geometrik koşullarda hem numunenin eksitasyonu hem de floresans radyasyonun dedekte edilmesi için ön plana çıkmaktadır. Bu yöntemin avantajı saçılım etkilerini en aza indirgemesidir. S2 PICOFOX toplam yansıma X-ışını spektroskopisi prensibini kullanarak sıvı, katı ve kontaminasyonların kantatif ve yarı-kantatif çoklu-element mikroanalizini yapabilen dünyanın ilk ve tek taşınabilir masaüstü cihazıdır.


       Enerji dağılımlı X-ışını floresans analizi (EDXRF)-Bruker AXS den Spektrometre Çözümleri

 
        Kalite ve üretim kontrolündeki uygulamalar için kolay kullanım ve analitik performans çok önemli olmasına karşın denetim işleri için analitik fleksibilite ve küçük cihaz ebatları önemli bir gereksinimdir. Polimerlerdeki katkı maddelerinin saptanması veya toprak ve atıkların sınıflandırılması için, Bruker in "Dokunmatik Analiz" tipindeki enerji dağılımlı (EDXRF) spektrometresi S2 RANGER, mükemmel bir araçtır.


       Dalgaboyu dağılımlı X-ışını floresans analizi (WDXRF)-Bruker AXS den Spektrometre Çözümleri

  
       Dalgaboyu dağılımlı X-ışını floresans spektrometreler (WD-XRF) rakipsiz doğruluk, kararlılık ve güvenilirlikleriyle bilinirler. Başarıya ulaşmada sağlam cihaz ve yüksek kararlığın anahtar rol oynadığı tüm endüstriyel uygulamalarda, S4 serisi spektrometreler endüstriyel ihtiyaçlara uyumluluğunu kanıtlamıştır:

 

       Yüksek analitik performans, yüksek numune girişi-S4 PIONEER, en kompak dalgaboyu dağılımlı X-ışını floresans (WDXRF) spektrometre gerçek 4kW lık eksitasyonu ile endüstri ve araştırmalardaki meydan okuma taleplerini karşılamaktadır. Güvenilir miktar tayini analizleri, en iyi hafif element performansı, yüksek analiz hızı ve yüksek numune girişi ile S4 PIONEER tüm uygulamaları, herkes için mümkün kılmaktadır.

 

      Mikro X-ışını floresans spektroskopi (µXRF)-Bruker AXS den Spektrometre Çözümleri 


      ARTAX nadir ve değerli objelerin yerinde, örneğin arkeometri ve sanat tarihi, spektroskopik analiz ihtiyaçlarını karşılamak için tasarlanan portatif bir mikro-XRF spektrometresidir. Bu analiz kesinlikle yıkıcı olmayan ve temas etmeden yapılan bir prosedürdür ve araştırma altındaki objeler her ne olursa olsun, kesinlikle onlara zarar vermez ve yapısını bozmaz.

Adres / ANKARA Tel: (0312) 473 44 96 (pbx) - Fax: (0312) 473 44 97 Adres / İSTANBUL
Acıbadem Caddesi No:214/3 34718 Acıbadem / ISTANBUL
         hakkımızda   |  ürünlerimiz   |  temsilcilikler   |  yeni ürün   |  iletişim   |  insan kaynakları
HALUK CANIGÜZEL
Tel: (0216) 546 10 95 (pbx) - Fax: (0216) 546 10 96 Ehlibeyt Mahallesi 11. Sokak No:8/2 06520 Balgat / ANKARA Site haritası Site haritası
2005 © www.nanospek.com.tr