Kalite Belgelerimiz Kalite Belgelerimiz
 
TENSOR FTIR
 
     Bugünün ve yarının analitik laboratuvar ihtiyaçları için dizayn edilen TENSORTM serisi FTIR kalite-kontrol, araştırma ve akademik uygulamalar için en uygun yardımcınızdır. Yeni DigiTectTM dedektör sistemi ile TENSORTM, en yüksek hassasiyette performans sağlar. "Permanent Aligned" yüksek verimli RockSolidTM interferometre sisteme kararlılık ve sağlamlık verir. Online PerformanceGuardTM kesin sonuçları garanti eder. TENSORTM ün bütün optik parçaları, otomasyon ünitesi ve aksesuarları devamlı kontrol edilir.

    TENSORTM serisi, otomatik aksesuar ve otomatik parça tanıma sistemi kullanılarak tasarlanmıştır. Ölçüm yapılacak aksesuar cihaza takıldığında, cihaz bu aksesuarı otomatik olarak tanır ve test eder. Doğru ölçüm parametrelerine otomatik olarak geçerek kullanıcıdan kaynaklanabilecek hatalar engellenir. Sistemlere opsiyonel olarak IR mikroskop, TGA-IR, GC-IR veya HPLC-IR arabirimi, NIR fiber optik prob bağlantısı vb. ekipmanlar eklenebilir. Farklı özelliklerde ve formlarda numuneler ile çalışabilmek amacıyla çok çeşitli aksesuarlar mevcuttur. (transmission, ATR, reflection, diffuse reflection, photoacustic vb.)
 
   Işık kaynağı, dedektör, beamsplitter ve lazer gibi optik parçalar kolaylıkla değiştirilebilir ve IntelliSenseTM kodlama teknolojisi sayesinde cihaz tarafından algılanır. Eğitimsiz personeller dahi bu parçaları değiştirebilir ve dalgaboyu aralığını NIR ve FIR bölgelere genişletebilir. TENSORTM Serisi geniş bir numune haznesine sahiptir ve çok çeşitli aksesuarlar kullanılabilir. OPUSTM software 21 CFR Part 11, GLP ve ISO normlarına tam uygundur.  
 Yeni Platinum ATR





Tensor ve Vertex serisi FTIR için geliştirilen yeni Bruker Platinum ATR avantajları

 • Elmas kristal, altın kaplı optikler
 • Spektral aralık : 10.000 cm -1 – 10 cm -1
 • Kolaylıkla değiştirilebilir ATR kristali
 • Basınç kontrollü pres ünitesi
 • Purge edilebilir
 • Otomatik aksesuar tanıma özelliği
                 
 
katı, toz ve sıvı örnekler için en uygun çözüm
mid-IR ve far-IR frekansında ölçümler yapılabilir
Etkinlikler

07 - 10 Ekim 2010, TURKCHEM 2010, İstanbul Fuar Merkezi

-İstanbul




20 - 21 Nisan 2010 OILS & FATS INTERNATIONAL Hilton Hotel Convention Centre

-İstanbul




22 - 25 Nisan 2010, TUYEM Uluslararası Yem Kongresi, Rixos Otel

-Antalya





Bruker XRF XRD SCD AFM EDS Tescan SEM Microtrac Bruker NIR Bruker FTIR Tescan Bruker Optics infrared spektrometre
NanoSpek2011©
FT - IR   FT - NIR  RAMAN  XRF  XRD  SCD  AFM  EasySEM  SEM  FIB  Partikül Boyut Ölçümü