Şirketimiz 18 Ocak 2010
tarihinden itibaren yeni
ofislerimizde hizmet vermeye
devam edecektir.

Lütfen yeni adres ve telefon
numaralarımızı kayıt ediniz !

Ankara Ofisi:
Adres: Öveçler Mahallesi 1335.
Sok. No:31/6 06450
Dikmen /ANKARA
Tel: (0312) 480 65 00(pbx)
Faks: (312) 480 65 01
İstanbul Ofisi:
Adres: Acıbadem Caddesi
No:218/11 34718
Acıbadem / İSTANBUL
Tel: (0216) 546 1095(pbx)
Fax: (0216) 546 1096
 
TANDEM II on-line PAT Tablet Karakterizasyon Sistemi
 
TANDEM, ilaç endüstrisi için geliştirilmiş tabletlerin üretim esnasında gerçek zamanlı ağırlık, kalınlık, sertlik ve NIR içerik tekdüzeliği analizlerini yapabilen on-line sistemdir.

•Tek bir cihazla tabletlerde gerçek zamanlı ağırlık, kalınlık, sertlik ve NIR içerik tekdüzeliği analizleri

•Her batch’de 300’den fazla tablet ölçümü (10 adet HPLC kullanımını ortadan kaldırır)

•PQRI tarafından tavsiye edilen örnekleme yöntemi

•Tam validasyon, IQ/OQ/PQ dökümantasyonu, USP/EP protokolleri

•Her çeşit tablet basma makinasına bağlanabilir
 
    İlaç sektörü tablet ve kapsül gibi bitmiş ilaç ürünlerinin olması gereken miktarda etken madde içerip içermediğinin kontrolü için güvenilir analiz yöntemlerine ihtiyaç duymaktadır. Bu kantitatif analizler içerik tekdüzeliği olarak adlandırılmaktadır.
 
    Geleneksel olarak içerik tekdüzeliği analizleri HPLC ile yapılmaktadır. Bu tür uzun zaman alan analiz yönteminde üretimden alınan örnekler laboratuvara getirilerek hazırlanır ve analize alınır. Üretim kalitesinin sürekli kontrolünü ve masrafların azaltılmasını amaçlayan ilaç firmaları için proses analitik teknolojilere yatırım yapmak en doğru çözümdür. Rutin tablet içerik tekdüzeliği analizleri için hızlı, güvenilir, tahribatsız bir analiz metodu olan NIR spektroskopi tekniği en uygun yöntemdir.
Etkinlikler

07 - 10 Ekim 2010, TURKCHEM 2010, İstanbul Fuar Merkezi

-İstanbul




20 - 21 Nisan 2010 OILS & FATS INTERNATIONAL Hilton Hotel Convention Centre

-İstanbul




22 - 25 Nisan 2010, TUYEM Uluslararası Yem Kongresi, Rixos Otel

-Antalya





Bruker XRF XRD SCD AFM EDS Tescan SEM Microtrac Bruker NIR Bruker FTIR Tescan Bruker Optics infrared spektrometre
NanoSpek2010©
FT - IR   FT - NIR  RAMAN  XRF  XRD  SCD  AFM  EasySEM  SEM  FIB  Partikül Boyut Ölçümü