X-Işını Difraksiyon (XRD) sıvı, metal, mineral, polimer, katalizör, plastik, ilaç, ince film kaplamaları, seramik ve yarıiletkenleri de içeren çok geniş alandaki malzemelerin analizi için kullanılan malzemeye zarar vermeyen yüksek teknolojili bir tekniktir. Endüstri ve araştırma enstitüleri içerisinde, XRD malzemelerin araştırma, karakterizasyon ve kalite kontrolü için vazgeçilmez bir metod haline gelmiştir. Örnek uygulama alanları olarak, kalitatif ve kantatif faz analizi, kristallografi, yapı ve ralaksiyon tanımlaması, texture ve residual stress araştırmaları, kontrollü numune ortamı, mikro-difraksiyon, nano-malzemeler, labaratuvar ve işlem otomasyonu ve yüksek girdili polimorf görüntüleme.
Bruker AXS gelişmiş X-Işını difraksiyon çözümleri sunan Dünya lideri bir firmadır. Sürekli yenilenen X-Işını kaynakları, optikleri, dedektörleri, program ve numune işlemleri Bruker AXS in her türdeki X-ışını analitik işlemleri için Difraksiyon çözümleri sunmasına olanak sağlamaktadır. Bunun yanında Bruker AXS XRD sistemlerinin tümü ortak D8 platformunda üretilmekte bu da ileride sistemin daha üst veya daha alt seviyeye modifiye edilmesine imkan sağlamaktadır. Gelen ışının koşullandırılabilmesi için geniş bir dizi değiştirilebiilen optikler mevcuttur.
Numune işlemleri hemen hemen sınırsızdır: Numune spinner ları, sıcaklık ve nem odacıkları, 5-serbestlik derecesinde haareket kontrolü veya 300mm otomatik wafer işlemlerinin tümü D8 platformu ile mümkündür. Dedektör kısmında ise, noktasal, tek boyutlu ve 2 boyutlu XRD2 dedektörleri mevcut analitik işe göre optimize edilebilir. DIFFRACplus program suiti ölçüm ve analiz programı için ortak bir görünüm sunmaktadır. Müşterilerimize daha iyi himet verebilmek için uzman ve profesyonel uygulama, satış, eğitim ve servisimizle hizmetinizdeyiz.