2005 © www.nanospek.com.tr
21 Kasım 2008 Cuma

   BRUKER    BRUKER OPTICS    TESCAN    POLYMER LABORATORIES    MICROTRAC

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2005 © www.nanospek.com.tr






D8 ADVANCE  Endüstri Lideri

       
D8 Advance toz XRD uygulamaları için en fazla satan X-ışını diffraktometre olmasına rağmen yetenekleriyle diğer X-ışını diffraksiyon uygulamalarının tamamına ulaşmaktadır. X-ışını kaynaklarının, numune stage lerinin, ve dedektörlerin 10,000 den fazla olası kombinasyonları kolaylaştırılarak her zaman en uygun konfigürasyona ulaşılabilir. Buna ek olarak, D8 ADVANCE ın modüler tasarımı konfigürasyonun kolay ve basitce değiştirilmesine olanak sağlamaktadır. Analitik olanakları genişletilebilir veya basitleştirilebilir. Tamamen masrafsız bir X-ışını diffraksiyon sistemi için ilk başta sade bir sistem alınıp daha sonra upgrade edilebilir.

       D8 ADVANCE ın push-plug optikleri para-focusing Bragg-Brentano geometrisi  ile paralel ışın geometrisi arasında sistemin tekrar ayarlanmasına gerek duymadan değişim yapabilmesine olanak sağlamaktadır. "cut above" standart toz diffraksiyon için Vario1 Johansonodaklama monokromatörü ile D8 ADVANCE yansıma ve bunun yanında folyo ve kapiller transmisyon deneyleri için yüksek değişkenlikte K-alpha-1 radyasyon özellikleri sunmaktadır.  


     D8 ADVANCE ın numune stage konsepti birçok değişik numune analizine olanak sağlamaktadır. Bu, yüksek sıcaklık ve nemle 10 K Helyum kapalı devre cryostat lardan çevresel olmayan numune koşullarına kadar derecelendirme yapmaktadır. Normal koşulları için, flip-stick numune stage i ve otomatik değiştirici transmisyon a ek olarak yansıma geometrisinde de 90 numuneye kadar ölçüm kapasitesi sağlamaktadır. 


     Dedektör teknolojisi Bruker AXS in çok önemli uzmanlık alanlarından birisidir. Bu D8 ADVANCE ın her çeşit noktasal ve lineer dedektörlerle donatılabileceği anlamına gelmektedir. Analitik gereksinimlere göre, kullanıcı değişik tiplerdeki dinamik sintilasyon sayıcı, enerji dağılımlı Sol-X, veya Süper Hızlı VANTEC-1 dedektörlerinden istediğini seçebilmektedir.


      Bireysel diffraksiyon çözümlerinin ne şekilde yapılandırıldığına bakılmaksızın, herhangi bir D8 ADVANCE normal olan ve olmayan koşullarda,  toz numunelerden kristal yapı çözümleri, kristalit hacim tanımlaması, residual stres analizi ve tercihli oryantasyon tayinleri için kalitatif ve kantatif faz tanımlama uygulamalarını yapma yeteneğine sahiptir.

Adres / ANKARA Tel: (0312) 473 44 96 (pbx) - Fax: (0312) 473 44 97 Adres / İSTANBUL
Acıbadem Caddesi No:214/3 34718 Acıbadem / ISTANBUL
         hakkımızda   |  ürünlerimiz   |  temsilcilikler   |  yeni ürün   |  iletişim   |  insan kaynakları
HALUK CANIGÜZEL
Tel: (0216) 546 10 95 (pbx) - Fax: (0216) 546 10 96 Ehlibeyt Mahallesi 11. Sokak No:8/2 06520 Balgat / ANKARA Site haritası Site haritası
2005 © www.nanospek.com.tr